Kit de formation aux circuits numériques TB230621S43 - Équipement de formation professionnelle - Banc d'entraînement scolaire - Équipement de formation électriqueLe boîtier expérimental se compose d'un boîtier en alliage aluminium-bois, d'une alimentation régulée haute performance, d'une source de signaux communs et d'une zone de circuit expérimental. Cette zone est entièrement ouverte, permettant une configuration flexible du circuit expérimental afin de répondre aux besoins pédagogiques et expérimentaux des étudiants de différents niveaux.
1. Composition principale
1. Alimentation du circuit expérimental : un groupe 5 V/2 A, un groupe ±12 V/0,7 A, un fusible par circuit. Chaque circuit est protégé contre les courts-circuits et les inversions de polarité. L'alimentation +5 V est protégée contre les surtensions et les sous-tensions. Une alarme de surtension et de court-circuit, ainsi qu'une fonction d'arrêt automatique, garantissent la sécurité des composants et des utilisateurs.
2. Sources de signaux communs
1) Circuit de génération d'impulsions séquentielles. Deux groupes de circuits de génération d'impulsions uniques (positives et négatives) et deux groupes de circuits de génération d'impulsions uniques (positives et négatives) sont également présents.
2) Circuit d'horloge à fréquence réglable en continu de 10 Hz à 10 kHz. 3) Un signal d'impulsion fixe de 1 Hz à 1 MHz est divisé en 16 sorties : 1 Hz, 10 Hz, 100 Hz, 1 kHz, 10 kHz, 100 kHz, 50 kHz, 1 000 kHz, 500 kHz et 1 MHz.
4) Circuit d'affichage numérique à 16 entrées avec protection.
5) Circuit de sortie à 16 positions avec affichage de l'état de commutation et protection.
6) Afficheur numérique à 7 segments LED à cathode commune (6 chiffres) avec circuit de décodage BCD intégré.
7) Afficheur numérique à 7 segments LED à cathode commune (2 bits).
8) Circuit de sortie à 4 commutateurs BCD avec protection.
10) Circuit de commande de sortie audio avec buzzer. 3. Module de test
1) Un fréquencemètre à affichage LCD 0-50 MHz.
4. Zone de circuit expérimental : Conception de circuit imprimé indépendante, totalement isolée de la source du signal expérimental, afin d'éviter tout dommage au boîtier principal lors d'une erreur de câblage dans la zone de circuit expérimental. La configuration de la zone de circuit expérimental est la suivante :
2) Zone de test ouverte comprenant 6 supports ronds pour CI14, 6 supports ronds pour CI16, 4 supports ronds pour CI20 et 1 support pour CI40 (compatible avec CI18 à CI40, etc.).
2) 1 haut-parleur 8 Ω, un buzzer, un interrupteur 1×2, 4 potentiomètres (1 kΩ, 50 kΩ, 100 kΩ, 680 kΩ) et plusieurs emplacements pour résistances et condensateurs.
3) Plusieurs supports empilables anti-rotation à verrouillage haute fiabilité (connexions internes avec supports intégrés, tubes en cuivre argenté et dispositifs de fixation, etc.) servent de points de connexion et de test. Lors du câblage expérimental, il suffit de connecter les fils à l'aide des connecteurs verrouillables.
5. La carte principale est un circuit imprimé de 2 mm d'épaisseur. Les symboles graphiques des composants, les connexions et les schémas de câblage sont imprimés sur la face avant, tandis que le circuit imprimé est imprimé au verso.
6. Circuits intégrés de base pour les expériences : 22 pièces, notamment 74LS00, 74LS02 et 74LS04.
7. Connexion des lignes expérimentales : toutes les prises de sortie de signal sont des prises Φ2 à verrouillage automatique plaquées or, inoxydables et esthétiques. Deux types de fils sont disponibles : des fils monobrins en cuivre de Φ0,5 (compatibles avec les plaques d'essai) et des fils empilables à verrouillage automatique de Φ2. 2. Module indépendant
1) Carte de module à composants discrets : la carte contient des résistances de 10 Ω, 100 Ω, 200 Ω, 470 Ω, 510 Ω, 1 kΩ, 1,2 kΩ, 1,5 kΩ,
4,7 kΩ, 5,1 kΩ, 10 kΩ, 22 kΩ, 47 kΩ, 100 kΩ, 150 kΩ, 22 MΩ ; des condensateurs de 20 pF, 30 pF, 100 pF et 100 pF réglables, 240 pF, 300 pF, 680 pF, 0,01 µF, 0,02 µF, 0,047 µF, 0,1 µF, 10 µF/16 V, 47 µF/16 V, 100 µF/16 V ; des diodes 2AK2, 2CK13, 2CK15, IN4007 ; Transistors 3DG6 et 3DK2 ; oscillateur à quartz 32 768 Hz ; matériel expérimental de base.
3. Projet expérimental
Expérience de base
1. Caractéristiques de commutation des transistors, limiteur et clamper
2. Test de la fonction logique et des paramètres d'une porte logique intégrée TTL
3. Test de la fonction logique et des paramètres d'une porte logique intégrée CMOS
4. Connexion et pilotage de circuits logiques intégrés
5. Conception et test de circuits logiques combinatoires
6. Décodeur et son application
7. Sélecteur de données et son application
8. Déclencheurs et leur application
9. Compteur et son application
10. Registre à décalage et son application
11. Distributeur d'impulsions et son application
12. Utilisation d'un circuit de porte pour générer un signal impulsionnel : un multivibrateur auto-excité
13. Déclencheur monostable et déclencheur de Schmitt : circuit de retard d'impulsion et de mise en forme de la forme d'onde
4. Configuration du boîtier d'expérimentation
N° Désignation Explication Quantité
1 Boîtier principal TB230621S43 Incluant tous les composants principaux tels que le châssis, l'alimentation, les sources de signaux communs et la zone du circuit expérimental 1 unité
2 Cordon d'alimentation 1,5 m 1 pièce
3 Câble d'expérimentation n° 2 30-50 cm : 35 pièces
4 fusibles 2 A : 2 pièces
5 guides d’expérimentation : 1 livre
